Kiểm tra bàn xoay cỡ nhỏ
Phù hợp cho O-ring, phớt và gioăng nhỏ cần kiểm tra ngoại quan hai mặt, kích thước và lỗi bề mặt.
Product Center
Chọn thiết bị theo kích thước sản phẩm, bề mặt kiểm tra, loại lỗi, năng suất và phương thức cấp/xả liệu. Nhấp vào ảnh thiết bị hoặc liên kết chi tiết để xem cấu hình và tình huống ứng dụng.
Product Center
Hình dạng sản phẩm và vị trí lỗi quyết định cấu trúc thiết bị. Hãy xác nhận bề mặt kiểm tra, dải kích thước, năng suất và công đoạn sau kiểm tra trước khi xem chi tiết thiết bị.
Phù hợp cho O-ring, phớt và gioăng nhỏ cần kiểm tra ngoại quan hai mặt, kích thước và lỗi bề mặt.
Phù hợp với chi tiết dạng vòng, chi tiết cao su và linh kiện chính xác có yêu cầu cao hơn về không gian chụp và năng suất.
Dành cho vết nứt cạnh bên, lỗi toàn chu vi, tạp chất, bọt khí và nứt bên trong mà kiểm tra phẳng khó bao phủ.
Tích hợp đếm bằng thị giác, đóng gói tự động, báo cáo thống kê và tín hiệu dây chuyền trước/sau.
Selection Matrix
Bắt đầu từ nhiệm vụ kiểm tra, sau đó xác nhận giới hạn cấu hình bằng mẫu, vị trí lỗi và nhịp sản xuất.
| Nhiệm vụ kiểm tra | Thiết bị ưu tiên đánh giá | Thông tin cần xác nhận |
|---|---|---|
| Ngoại quan hai mặt + kích thước | SExpert / MExpert / DExpert | Dải kích thước, mẫu lỗi, nhịp và phương thức cấp liệu |
| Nứt cạnh bên + toàn chu vi | SCrack360 / DExpert360 | Đường kính, độ cứng, mẫu lỗi cạnh bên và giới hạn kẹp |
| Bọt khí + tạp chất bên trong | X-Ray | Mật độ vật liệu, độ dày, mẫu lỗi bên trong và yêu cầu an toàn |
| Đếm đóng gói sau kiểm tra | AutoBag | Số lượng mỗi túi, quy cách đóng gói và liên kết kiểm tra trước |
Dải kích thước, vật liệu, màu sắc, trọng lượng, ảnh sản phẩm hoặc bản vẽ.
Mẫu OK / NG, vị trí lỗi, giới hạn phán định và tiêu chuẩn chấp nhận.
Nhịp mục tiêu, cách cấp liệu, số nhánh loại bỏ, không gian hiện trường và nhu cầu đóng gói.
Khả năng kiểm tra, thiết bị đề xuất, rủi ro và hướng cấu hình ban đầu.
Samples & Layouts
Bao gồm đầy đủ mẫu lỗi, ảnh X-Ray bên trong, cùng giới hạn kích thước và bố trí của từng dòng thiết bị trong catalogue.
Dòng thiết bị
SExpert phù hợp cho cấp liệu tự động, kiểm tra thị giác và phân loại các vòng cao su nhỏ và chi tiết làm kín. Có thể cấu hình module kiểm tra mặt trên, mặt dưới, cạnh trong/ngoài, kích thước và lỗi bề mặt theo mẫu.
Bao gồm đầy đủ ảnh mẫu và ảnh lỗi trong catalogue để trao đổi vị trí lỗi, hình dạng lỗi và phương thức kiểm tra.
Dòng thiết bị
SCrack360 sử dụng ép giãn và chụp ảnh nhiều góc để quan sát toàn bộ chu vi sản phẩm. Hệ thống phù hợp cho vòng cao su cần nhận diện vết nứt, biến dạng và lỗi bề mặt quanh chu vi.
Bao gồm đầy đủ ảnh mẫu và ảnh lỗi trong catalogue để trao đổi vị trí lỗi, hình dạng lỗi và phương thức kiểm tra.
Nứt cạnh bên 1
Nứt cạnh bên 2
Ngoại quan cạnh bên 1
Ngoại quan cạnh bên 2
Ngoại quan cạnh bên 3
Ngoại quan cạnh bên 4
Nứt cạnh bên 3
Dòng thiết bị
MExpert bao phủ kiểm tra O-ring cỡ trung, vòng định hình và chi tiết làm kín. Nền tảng bàn xoay có thể mở rộng nhiều camera, nhiều nguồn sáng và module đo kích thước.
Bao gồm đầy đủ ảnh mẫu và ảnh lỗi trong catalogue để trao đổi vị trí lỗi, hình dạng lỗi và phương thức kiểm tra.
Định vị lỗi mép
Đối chiếu mẫu kiểm tra
Mẫu nứt gãy
Đường kính ngoài
Mẫu biến dạng
Mẫu tắc nghẽn
Mẫu ba via
Dòng thiết bị
DExpert dành cho gioăng cỡ lớn và chi tiết cao su định hình, tập trung giải quyết cấp liệu, định vị, chụp ảnh ổn định và nhận diện lỗi cho sản phẩm kích thước lớn.
Bao gồm đầy đủ ảnh mẫu và ảnh lỗi trong catalogue để trao đổi vị trí lỗi, hình dạng lỗi và phương thức kiểm tra.
Định vị lỗi mép
Đối chiếu mẫu kiểm tra
Mẫu nứt gãy
Đường kính ngoài
Mẫu biến dạng
Mẫu tắc nghẽn
Mẫu ba via
Dòng thiết bị
DExpert360 dùng cho kiểm tra 360 độ sản phẩm lớn, phù hợp với các yêu cầu cao về vết nứt, lỗi cạnh bên, biến dạng và tính nhất quán ngoại quan quanh chu vi.
Bao gồm đầy đủ ảnh mẫu và ảnh lỗi trong catalogue để trao đổi vị trí lỗi, hình dạng lỗi và phương thức kiểm tra.
Mẫu bề mặt dưới
Mẫu lỗi chu vi
Mẫu lỗi mép
Biên dạng cạnh bên 1
Biên dạng cạnh bên 2
Lỗi cạnh bên 1
Lỗi cạnh bên 2
Dòng thiết bị
AutoBag có thể dùng để đếm và đóng gói sau kiểm tra, hoặc như một giải pháp đếm, phân loại và vào túi độc lập cho chi tiết thông thường. Phù hợp khi cần tăng hiệu suất đóng gói và độ chính xác số lượng.
Bao gồm đầy đủ ảnh mẫu và ảnh lỗi trong catalogue để trao đổi vị trí lỗi, hình dạng lỗi và phương thức kiểm tra.
Dòng thiết bị
Thiết bị X-Ray dùng để kiểm tra lỗi bên trong mà thị giác quang học thông thường khó quan sát. Có thể áp dụng cho chi tiết cao su, gioăng và sản phẩm vật liệu đặc biệt cần phân tích cấu trúc bên trong.
Bao gồm đầy đủ ảnh mẫu và ảnh lỗi trong catalogue để trao đổi vị trí lỗi, hình dạng lỗi và phương thức kiểm tra.
Equipment Series
Thẻ sản phẩm được sắp xếp theo dòng thiết bị chính. Ảnh thiết bị và nút chi tiết đều mở trang chi tiết tương ứng.
Hệ thống kiểm tra bàn xoay cỡ nhỏ
SExpert phù hợp cho cấp liệu tự động, kiểm tra thị giác và phân loại các vòng cao su nhỏ và chi tiết làm kín. Có thể cấu hình module kiểm tra mặt trên, mặt dưới, cạnh trong/ngoài, kích thước và lỗi bề mặt theo mẫu.
Hệ thống kiểm tra 360 độ bằng ép giãn
SCrack360 sử dụng ép giãn và chụp ảnh nhiều góc để quan sát toàn bộ chu vi sản phẩm. Hệ thống phù hợp cho vòng cao su cần nhận diện vết nứt, biến dạng và lỗi bề mặt quanh chu vi.
Hệ thống kiểm tra bàn xoay cỡ trung
MExpert bao phủ kiểm tra O-ring cỡ trung, vòng định hình và chi tiết làm kín. Nền tảng bàn xoay có thể mở rộng nhiều camera, nhiều nguồn sáng và module đo kích thước.
Hệ thống kiểm tra bàn xoay cỡ lớn
DExpert dành cho gioăng cỡ lớn và chi tiết cao su định hình, tập trung giải quyết cấp liệu, định vị, chụp ảnh ổn định và nhận diện lỗi cho sản phẩm kích thước lớn.
Hệ thống kiểm tra 360 độ cỡ lớn
DExpert360 dùng cho kiểm tra 360 độ sản phẩm lớn, phù hợp với các yêu cầu cao về vết nứt, lỗi cạnh bên, biến dạng và tính nhất quán ngoại quan quanh chu vi.
Máy đếm và đóng gói thị giác
AutoBag có thể dùng để đếm và đóng gói sau kiểm tra, hoặc như một giải pháp đếm, phân loại và vào túi độc lập cho chi tiết thông thường. Phù hợp khi cần tăng hiệu suất đóng gói và độ chính xác số lượng.
Hệ thống kiểm tra thị giác
Thiết bị X-Ray dùng để kiểm tra lỗi bên trong mà thị giác quang học thông thường khó quan sát. Có thể áp dụng cho chi tiết cao su, gioăng và sản phẩm vật liệu đặc biệt cần phân tích cấu trúc bên trong.
Liên hệ
Gửi ảnh sản phẩm, dải kích thước, mẫu lỗi, mục tiêu năng suất và phương thức cấp/xả liệu. Chúng tôi có thể đánh giá khả năng kiểm tra trước khi cấu hình thiết bị.